在高速光通信、激光雷達(dá)、量子通信等前沿領(lǐng)域，激光相對(duì)強(qiáng)度噪聲（RIN）直接決定了系統(tǒng)信噪比與誤碼率等性能，因此RIN指標(biāo)的測(cè)試成為工程師關(guān)注的焦點(diǎn)，然而行業(yè)長(zhǎng)期面臨高頻噪聲捕獲不足、底噪掩蓋真實(shí)信號(hào)的測(cè)試?yán)Ь场闈M足RIN精準(zhǔn)測(cè)試需求，“思儀科技”推出了寬頻帶覆蓋、高靈敏度、低噪底的國(guó)產(chǎn)化測(cè)試方案。
圖 1 光相對(duì)強(qiáng)度噪聲（RIN）測(cè)試方案
本方案由光底座和頻譜儀兩部分組成，為了能精準(zhǔn)測(cè)量RIN值，“電科思儀”攻克了超寬帶光電探測(cè)、多級(jí)信號(hào)處理、噪聲分離及系統(tǒng)校準(zhǔn)等技術(shù)難題，達(dá)到了40GHz分析帶寬、-157dBc/Hz（@1mW光輸入）噪底的RIN測(cè)量分析水平，同時(shí)支持1260nm~1625nm寬波段范圍的RIN測(cè)量。圖1為測(cè)試本公司自主研發(fā)的激光源應(yīng)用案例。
圖 2 軟件測(cè)試視圖
RIN分析儀具備友好的用戶交互界面，圖2為本方案實(shí)際RIN測(cè)試結(jié)果圖示例。軟件可設(shè)置不同的測(cè)試條件，便于用戶分析全頻域、分頻段的RIN指標(biāo)。40GHz分析帶寬兼顧超高速應(yīng)用場(chǎng)景，思儀的校準(zhǔn)技術(shù)自動(dòng)剝離環(huán)境噪聲及系統(tǒng)噪聲，實(shí)現(xiàn)高精度高重復(fù)性的RIN測(cè)量，-157dBc/Hz（@1mW光輸入）噪底接近量子極限水平。
“電科思儀”開發(fā)的激光相對(duì)強(qiáng)度噪聲測(cè)試方案，可縮短用戶的研發(fā)周期、提升量產(chǎn)良率。同時(shí)本方案擴(kuò)展性強(qiáng)，可根據(jù)用戶的實(shí)際需求提供不同帶寬、不同波長(zhǎng)范圍要求的解決方案。 
